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標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)? 3451

低溫塞貝克系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)（10 K 至 390 K）

此標(biāo)準(zhǔn)參考材料 (SRM) 主要用于在 10 K 至 390 K 的溫度范圍內(nèi)校準(zhǔn)塞貝克系數(shù)測量設(shè)備（用于散裝材料）。 SRM 3451 的一個單元由一個條形工件（約 3.5 mm × 2.5 mm × 8.0 mm) 的非化學(xué)計量碲化鉍（n 型，富含 Te，Bi/Te 摩爾比約為 2/3，式 Bi2Te3+x）。

NIST SRM 3451低溫Seebeck系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)(標(biāo)準(zhǔn)品)

認(rèn)證值和不確定性：

NIST 認(rèn)證值是 NIST 對其準(zhǔn)確性有最高置信度的值，因為所有已知或可疑的偏差來源都已調(diào)查或考慮在內(nèi) [1]。使用微分穩(wěn)態(tài) (DC) 技術(shù)對 Quantum Design Physical Property 獲得認(rèn)證值測量系統(tǒng) (PPMS)，可在表 1 中找到。

不確定性分析是根據(jù) ISO 指南 [2] 中包含的建議進(jìn)行的。與塞貝克系數(shù)測量結(jié)果相關(guān)的不確定性被歸類為可以統(tǒng)計評估的成分（A 型）和不能進(jìn)行統(tǒng)計評估的成分（B 型）。 A 類組件包括樣本間變化和非系統(tǒng)電壓和/或熱偏移，這些組件基于組合的測量系列進(jìn)行最佳統(tǒng)計處理，而 B 類組件是系統(tǒng)性的，源自儀器、數(shù)據(jù)采集和溫度計由冷熱溫度和電勢的測量引起的校準(zhǔn)誤差。

為了推導(dǎo)出平均基準(zhǔn)溫度的塞貝克系數(shù)不確定性分量，塞貝克系數(shù)數(shù)據(jù)被參數(shù)化，并且該塞貝克系數(shù)數(shù)據(jù)的導(dǎo)數(shù) Sm(T) 乘以基準(zhǔn)溫度和單個溫度的組合不確定度。塞貝克系數(shù)的最終組合標(biāo)準(zhǔn)不確定度是組合 A 型和 B 型不確定度分量的平方根和。在正態(tài)分布假設(shè)下，通過將組合標(biāo)準(zhǔn)不確定性乘以 k = 2，即 Sm ± kσ，獲得擴(kuò)展的不確定性區(qū)間。